エッセイ: 反復性と再現性の分析

今日も少し技術的なこと、データ測定について書いてみようかと思います。

シックスシグマは多くの場合、製造プロセスに用いられ、また DFSS (Design for Six Sigma)は多くの場合、ハードウェア設計に用いられます。(注:ソフトウェアやファームウェアの設計に DFSS を用いることもありますが、割合からすると、やはりハードウェア設計に用いる場合が多いのが現実です。ソフトウェアやファームウェアの DFSS については、後日書きます)。製造プロセスやハードウェアの設計には必ずデータ測定が付きまとい、そしてデータ測定には必ず誤差が付きまといます。測定したデータの誤差は避けられないものなので、むしろ、測定したデータの誤差がどこから来るのかを理解することが重要になってきます。

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事例: 属性一致分析(Attribute Agreement Analysis)

リーンシックスシグマでは、測定システム分析(MSA: Measurement System Analysis)の一環として、オペレータ(人)を含めた測定システムの再現性や反復性を調べることがあります(Gage R&R)。この測定システム分析は、連続数値を扱う方法と、離散数を扱う方法の、二つに分類されますが、主に前者の連続数を扱う測定システム分析が用いられ、抵抗値や電圧、サイズの測定などに使われています。

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